1. 密析爾冷鏡式露點儀
不一樣水份含量的氣體在不一樣溫度下的鏡面上會結(jié)露。選用光電檢測技能，檢測出露層并丈量結(jié)露時的溫度，直接顯現(xiàn)露點。鏡面制冷的辦法有：半導體制冷、液氮制冷和高壓空氣制冷。冷鏡式露點儀選用的是直接丈量辦法，在確保檢露、鏡面制冷率和精細丈量結(jié)露溫度前提下，該種露點儀可作為規(guī)范露點儀運用?，F(xiàn)在上高精度到達±0.1℃(露點溫度)，如徽科特公司的S8000，S4000、Optidew Vision、Optidew等，通常精度可到達±0.5℃以內(nèi)。
2. 電傳感器式露電儀
選用親水性資料或憎水性資料作為介質(zhì)，構(gòu)成電容或電阻，在含水份的氣體流經(jīng)后，介電常數(shù)或電導率發(fā)生相應改變，測出其時的電容值或電阻值，就能知道其時的氣體水份含量。建立在露點單位制上規(guī)劃的該類傳感器，構(gòu)成了電傳感器式露點分析儀。現(xiàn)在上高精度到達±1.0℃(露點溫度)，如MICHELL公司的EASIDEW ON-LING，CERMX II、通常精度可到達±3℃以內(nèi)。如MICHELL公司EAS-TX-80，EAS-TX-100，EA2-TX-100-HD，MDM300，EASIDEW PRO IS等，
3. 電介法露點儀
使用五氧化二磷等資料吸濕后分解成極性分子，從而在電極上堆集電荷的特性，規(guī)劃出建立在含濕量單位制上的電解法微水份儀?，F(xiàn)在上高精度到達±1.0℃(露點溫度)，通常精度可到達±3℃以內(nèi)。此種方式對氣體的潔凈請求對比高，可測腐蝕性氣體，德國有一家公司有做，現(xiàn)在國內(nèi)使用不多。
4. 晶體振蕩式露點儀
使用晶體沾濕后振蕩頻率改變的特性，能夠規(guī)劃晶體振蕩式露點儀。這是一項較新的技能，現(xiàn)在尚處于不非常老練的期間。國外有有關(guān)產(chǎn)品，但精度較差且本錢很高。即是價格對比貴
5. 紅外露點儀
使用氣體中的水份對紅外光譜吸收的特性，能夠規(guī)劃紅外式露點儀?，F(xiàn)在該儀器很難測到低露點，主要是紅外勘探器的峰值勘探率還不能到達微量水吸收的量級，還有氣體中別的成份含量對紅外光譜吸收的攪擾。但這是一項很新的技能，對于環(huán)境氣體水份含量的非觸摸式在線監(jiān)測具有主要的含義。如美國米科公司的都挺好。
6. 半導體傳感器露點儀
每個水分子都具有其天然振蕩頻率，當它進入半導體晶格的空地時，就和遭到充電鼓勵的晶格發(fā)生共振，其共振頻率與水的摩爾數(shù)成正比。水分子的共振能使半導體結(jié)放出自由電子，從而使晶格的導電率增大，阻抗減小。使用這一特性規(guī)劃的半導體露點儀可測到-100℃露點的微量水份。
